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材料的電輸運性質(zhì)測試核心內(nèi)容

更新時間:2025-06-18 點擊量:56

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材料的電輸運性質(zhì)測試是表征材料導(dǎo)電行為的關(guān)鍵技術(shù),主要通過測量電阻率、載流子濃度及遷移率等參數(shù),揭示材料在電場、磁場及溫度變化下的電子傳輸機制。以下是核心測試內(nèi)容

1.?電阻率與電導(dǎo)率?
通過四探針法(消除接觸電阻影響)或范德堡法測量電阻率(ρ),電導(dǎo)率(σ)為其倒數(shù)(σ=1/ρ),反映材料導(dǎo)電能力。

2.?載流子特性?
霍爾效應(yīng)測試可獲取載流子濃度(n)、遷移率(μ)及導(dǎo)電類型(p/n型),公式:R_H=1/(ne)R_H為霍爾系數(shù))。

3.?磁輸運行為?
磁阻(MR)測量電阻隨磁場強度的變化率,公式:MR=(R_H-R_0)/R_0,用于研究自旋電子學(xué)材料。

4.?溫度依賴性?
變溫電阻(R-T)曲線可分析半導(dǎo)體禁帶寬度、超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度等相變特征。


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